Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》一书具有很强的实用性，可以作为材料、化学以及地质等领域学习X射线多晶衍射Rietveld法结构精修和GSAS软件的研究人员的入门参考书，也可以作为本科生、研究生教学的实验教材
第1章Rietveld法结构精修
1.1Rietveld法结构精修发展概况
1.2Rietveld法基本原理
1.3参数修正顺序与结果判据
1.3.1参数修正的顺序
1.3.2精修的数值判据
1.3.3精修的图示判断
1.4精修过程出现的问题和对策
1.5Rietveld法结构精修的应用
1.5.1修正晶体结构
1.5.2相变研究和点阵常数测定
1.5.3物相定量分析
1.5.4晶粒尺寸和微应变测定
第2章EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍
2.1GSAS软件简介
2.2EXPGUI-GSAS软件的安装
2.3EXPGUI-GSAS软件界面介绍
2.3.1菜单栏
2.3.2选项卡界面
2.3.3EXPGUI帮助内容
第3章EXPGUI-GSAS结构精修起步
3.1精修前的准备工作
3.1.1衍射数据的测定
3.1.2衍射数据的转换
3.1.3初始结构的获取
3.2EXPGUI精修简单示例
3.2.1生成EXP文件
3.2.2精修过程
3.2.3常见问题
3.3精修结果提取与绘图
3.3.1精修结果提取
3.3.2精修图谱绘图
第4章EXPGUI-GSAS提高练习
4.1仪器参数文件的建立
4.1.1基本知识
4.1.2操作过程
4.2物相(含非晶)定量分析
4.2.1基本原理
4.2.2衍射数据测试
4.2.3精修过程
4.3Le Bail法拟合以及约束的使用
4.3.1问题描述
4.3.2精修过程
参考文献
